碳化钨料钵X荧光光谱法：
当试祥受到强烈的X射线辐照时，其中各组分元素的原子受到激发面产生次级的特征X射线，称为灭光射线。不同元素具有波长不同的特征工射线，而各谱线的强度又与元索的含量星一定的关系，故测定持测元素的次级特征X射线(荧光X射线)的波长和强度，就可进行定性和定量分析。
荻光义射线的波长(1)与元素的原子序数(Z)有如下关系:入=K(Z-S)。这就是著名的莫斯莱(Mosely)定律，武中K和S是常数，只要测出荧光X射线的波长，就可知道元素的种类。从谱线的强度可对该元素进行定量分析。
X射线荧光光谱仪由激发源、分光系统和探测系统三部分组成。X射线管是通用的激发源。它的阴极是钨丝做成的灯丝，阳极则是用导电导热性能极好且熔点较高的铜材制成，其表面镀以所需的阳极靶材料，如Cu、Ni、Sc、Ag、Co、Fe、Cr、Mo、Rh、W、Au等纯金属，窗口采用对X射线吸收很小的金属铍箔制成。分光系统由准直器和色散元件组成。色散元件是分析品体，一般是用氟化锂(LiF)、石英、Ge成其他的晶体加工而成,利用品体的衍射现象使不同波长的荧光X射线分开。探测系统由探测器和记录系统组成，探测器有流气式正比计数管和闪烁计数管两种，记录系统则把探测器接收的脉冲信号进一步放大、甄別，然后进行计数测量。并据此进行定性与定量分析。现代化的X荧光光谱仪，只要将试祥装人样品室后，所有工作程序完全由计算机控制，测量完全自动化。X荧光光谱仪也分为单道扫描式和多道式两种。
x荧光光谱法具有分析的元素多，可测定Z>5的所有元素;测定的范围宽，可测定从104%到90%以上的含量范田围;荧光X射线谱比较简单，谐线干扰少，对化学性质相近的元素，如稀土、稀有、铂系元素分析，可不必进行复杂的分离;分析祥品可不受戚环2是一种快速简便的无损分析方法。但X荥光光谐仪价格昂贵，推广应用受到一定限制。[分析硬质合金混合料和碳化物固游体中Co、Ti、Nb、Ta;顶锤锌熔料中Zn、Fe、T、Si、Ca、Mg、Al; TiO2中 Ti、Fe、Si、S、P;铸造WC 中Mo、Nb、Ta、Ni、Co、Fe、Cr、)十十V、Ti、Si等均可用X荧光光谱法分析。