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碳化钨料钵生产的标识X射线谱添加时间：2019-11-27
碳化钨料钵生产的标识X射线谱：
标识X射线谱的产生机理与阳极物质的原子内部结构是紧密相关的。标识X射线谱的频率或波长的大小只取决于靶物质的原子序数，而与其他的外界因素无关，它标志着各种物质的固有特性。莫塞莱于1913年发现标识X射线的波长与原子序数的关系。
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